日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀上市通知
日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀上市通知
HIOKI此次發(fā)售了阻抗分析儀IM7581。
在信息化發(fā)展的今天，為了收發(fā)大容量的數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展之中。這類高速傳輸線的延遲時間偏差的改善和干擾對策中所使用的共模濾波器及鐵氧體磁珠等電子元件也隨之向高頻化發(fā)展。
在這樣的市場走勢中，我司于去年8月發(fā)售了IM7580。IM7580zui高可測量300MHz的高頻，是一款適用于高頻化電子元件的產(chǎn)品。通過IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量，能夠快速的檢查大量的電子元件，并提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。
本次發(fā)售的IM7581，相對于IM7580的1MHz～300MHz測量頻率，還擴大了低頻范圍達到100kHz～300MHz。因此，之前需要使用兩臺測量儀器的產(chǎn)線中，只需要一臺IM7581即可對應。
日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 開發(fā)背景
現(xiàn)在需要進行大容量數(shù)據(jù)的收發(fā)，因此高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€在高速發(fā)展之中。為了在維持高速傳輸線的信號品質(zhì)的同時控制干擾影響，會使用共模濾波器和鐵氧體磁珠等電子元件，而隨著傳輸線的高速化，此類電子元件也向高頻化發(fā)展。
而且，在追求手機和手提電腦的小型化時，電源部分也需要小型化，為了解決這個問題要將DC-DC轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率高頻化。只是，大型設備中的開關(guān)頻率也存在以往數(shù)百kHz的設備，因此生產(chǎn)這些電子元件的電子元件廠商在電子元件的開發(fā)和出貨檢查中需要進行數(shù)百kHz~數(shù)十MHz的測量。但是很少有1臺機器就能測量這個頻率范圍，一般出貨檢查中會安裝2臺測量儀器，按照不同的產(chǎn)品切換著來使用。
在此需求的基礎(chǔ)上，我司著手開發(fā)了能夠滿足100kHz低頻測量的高頻且能夠進行高速測量檢查的阻抗分析儀，在以往需要2臺測量儀器的生產(chǎn)線中，現(xiàn)在只需要1臺測量儀器即可。
日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 主要用途
電子元件廠商的電子元件的出貨檢查
電子元件廠商的電子元件的驗收和特性評估
日本日置發(fā)售IM7581/IM7580A阻抗分析儀 產(chǎn)品特點
1.測量頻率帶寬100kHz～300MHz
IM7581的測量頻率是100kHz~300MHz。和去年發(fā)售的IM7580相比，還能對應低頻測量。 單一頻率測量的LCR模式的話，可用于電子元件的出貨檢查的合格判斷，變化頻率的同時測量的分析模式的話，可用于產(chǎn)品開發(fā)中的特性評估等各種領(lǐng)域。
2.zui快0.5ms的高速測量和高穩(wěn)定性的測量，有利于提高生產(chǎn)效率
zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。因此，對于需要快速檢查大批量電子元件的電子元件廠商來說，大幅提高了生產(chǎn)效率。
而且，測量的反復精度和以往產(chǎn)品相比提高了1/10，能夠加穩(wěn)定的測量，并改善生產(chǎn)的產(chǎn)率，從而提高生產(chǎn)效率。
3.主機尺寸小型化，減少生產(chǎn)成本
電子元件廠商的生產(chǎn)線中，機架里安裝了各種儀器并制作成檢查系統(tǒng)，來進行自動檢查。因此，通過將主機尺寸變小，讓檢查系統(tǒng)小型化，通過安裝多臺儀器能夠縮短檢查時間，從而降低生產(chǎn)成本。
IM7580的尺寸是半個機架的大?。ㄩL215mm、高200mm、寬268mm），一個機架中能放置2臺。
4.各種判定功能判定合格情況
IM7581中追加了點判定的功能。除了在以往單一的頻率下判定合格與否的方式外，還能使用點判定來判定多個頻率的合格情況，是的電子元件的檢查方式。
基本參數(shù)
基本精度：±0.72%rdg
測量速度：FAST: 0.5ms/MED: 0.9ms/SLOW: 2.1ms/SLOW2: 3.7ms
測量范圍：100mΩ ～5kΩ
測量頻率：100kHz ～300MHz
測量信號電平：-40.0dBm～+7.0dBm / 4mV～1001mV / 0.09mA～20.02mA
同時發(fā)售IM7580的替代升級產(chǎn)品IM7580A
IM7580的替代升級產(chǎn)品IM7580A也同時發(fā)售。
延續(xù)了IM7580獲得好評的性能、參數(shù)和便捷性，并共用了IM7581的設計，以此降低成本。
也具備IM7581新功能中的點判定功能。
